투과전자현미경,TEM,

10051463

투과전자현미경,Jeol,JP/JEM-2010,TEM

공동실험실습관

혜성관 122호 투과전자현미경실

2002-07-15

Transmission Electron Microscope ,TEM

Transmission Electron Microscope, 투과전자현미경,TEM

투과전자현미경(transmission electron microscope, TEM)은 가시광선보다 극도로 짧은 파장의 전자빔을 광원으로 하는 고분해능 영상장비로서, 물질의 미소영역에 있는 내부구조 및 형태, 격자결함, 결정성, 화학조성 등의 정보를 얻는다. 즉, 얇은 시편을 투과/회절한 전자들을 이용하여, 나노 스케일의 이미지 또는 혹은 회절패턴을 얻어 시료의 미세구조를 분석할 수 있다.

■ Voltage: up to 200kV ■ Gun Type: LaB6 ■ Resolution: Point 0.23 nm, Lattice 0.14 nm ■ Mode: TEM/STEM/EDS ■ Magnification : X 50 ~ 1,500,000

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정상

배혜진

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